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https://hdl.handle.net/10216/84533
Author(s): | José Silva Matos José M. M. Ferreira Filipe Sousa Pinto |
Title: | Auto-Teste de Sistemas Electrónicos com BST |
Issue Date: | 1991 |
Description: | A metodologia de teste Boundary Scan (BST) surgiu como resposta aos problemas colocados ao teste de cartas de circuito impresso contendo VLSIs e ASICs de grande complexidade e exibindo difícil acesso aos nós físicos da carta. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados em que células especiais associadas aos pinos de entrada e saída realizam o equivalente a um "bed-of-nails" eletrónico, facilitando o teste das ligações na carta e o controlo dos mecanismos de auto-teste disponíveis nos integrados. Este trabalho, depois de descrever sucintamente a metodologia, discute os aspetos essenciais associados com o teste de interligações e apresenta a arquitetura de um processador dedicado para o autoteste de cartas de circuito impresso com BST. |
Subject: | Engenharia electrotécnica, Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Electrical engineering, Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering |
Scientific areas: | Ciências da engenharia e tecnologias::Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Engineering and technology::Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering |
URI: | https://repositorio-aberto.up.pt/handle/10216/84533 |
Source: | Actas do VI Congresso da Sociedade Brasileira de Microelectrónica |
Document Type: | Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional |
Rights: | openAccess |
License: | https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ |
Appears in Collections: | FEUP - Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional |
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