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3. FEUP - Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional

Author(s):	José Silva Matos José M. M. Ferreira Filipe Sousa Pinto
Title:	Auto-Teste de Sistemas Electrónicos com BST
Issue Date:	1991
Description:	A metodologia de teste Boundary Scan (BST) surgiu como resposta aos problemas colocados ao teste de cartas de circuito impresso contendo VLSIs e ASICs de grande complexidade e exibindo difícil acesso aos nós físicos da carta. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados em que células especiais associadas aos pinos de entrada e saída realizam o equivalente a um "bed-of-nails" eletrónico, facilitando o teste das ligações na carta e o controlo dos mecanismos de auto-teste disponíveis nos integrados. Este trabalho, depois de descrever sucintamente a metodologia, discute os aspetos essenciais associados com o teste de interligações e apresenta a arquitetura de um processador dedicado para o autoteste de cartas de circuito impresso com BST.
Subject:	Engenharia electrotécnica, Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Electrical engineering, Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering
Scientific areas:	Ciências da engenharia e tecnologias::Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Engineering and technology::Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering
URI:	https://repositorio-aberto.up.pt/handle/10216/84533
Source:	Actas do VI Congresso da Sociedade Brasileira de Microelectrónica
Document Type:	Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional
Rights:	openAccess
License:	https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/
Appears in Collections:	FEUP - Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional

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