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https://hdl.handle.net/10216/84533Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.creator | José Silva Matos | |
| dc.creator | José M. M. Ferreira | |
| dc.creator | Filipe Sousa Pinto | |
| dc.date.accessioned | 2019-01-31T13:44:53Z | - |
| dc.date.available | 2019-01-31T13:44:53Z | - |
| dc.date.issued | 1991 | |
| dc.identifier.other | sigarra:65796 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorio-aberto.up.pt/handle/10216/84533 | - |
| dc.description | A metodologia de teste Boundary Scan (BST) surgiu como resposta aos problemas colocados ao teste de cartas de circuito impresso contendo VLSIs e ASICs de grande complexidade e exibindo difícil acesso aos nós físicos da carta. Baseia-se na disponibilidade de circuitos integrados em que células especiais associadas aos pinos de entrada e saída realizam o equivalente a um "bed-of-nails" eletrónico, facilitando o teste das ligações na carta e o controlo dos mecanismos de auto-teste disponíveis nos integrados. Este trabalho, depois de descrever sucintamente a metodologia, discute os aspetos essenciais associados com o teste de interligações e apresenta a arquitetura de um processador dedicado para o autoteste de cartas de circuito impresso com BST. | |
| dc.language.iso | por | |
| dc.relation.ispartof | Actas do VI Congresso da Sociedade Brasileira de Microelectrónica | |
| dc.rights | openAccess | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/ | |
| dc.subject | Engenharia electrotécnica, Engenharia electrotécnica, electrónica e informática | |
| dc.subject | Electrical engineering, Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering | |
| dc.title | Auto-Teste de Sistemas Electrónicos com BST | |
| dc.type | Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional | |
| dc.contributor.uporto | Faculdade de Engenharia | |
| dc.subject.fos | Ciências da engenharia e tecnologias::Engenharia electrotécnica, electrónica e informática | |
| dc.subject.fos | Engineering and technology::Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering | |
| Appears in Collections: | FEUP - Artigo em Livro de Atas de Conferência Internacional | |
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| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 65796.pdf | Auto-Teste de Sistemas Electrónicos com BST | 439.83 kB | Adobe PDF |  View/Open |
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