Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/10216/57744
Author(s): Barroso, Alberto Rui Frutuoso
Title: Técnicas de auto-teste (BIST) e auto-reparação (BISR) para memórias RAM síncronas
Issue Date: 2008
Date: 2008
Description: Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores - Major de Telecomunicações. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008
Subject: Memórias
Testes de circuitos
Reparação de anomalias
Other Identifiers: oai:digitool.fe.up.pt:51589
URI: http://hdl.handle.net/10216/57744
Related Information: FEUP
SDI
RiFEUP
Document Type: Dissertação
Rights: openAccess
Appears in Collections:FEUP - Dissertação

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