1. Repositório Aberto da Universidade do Porto
  2. FEUP - Faculdade de Engenharia
  3. FEUP - Dissertação
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Registo completo
Campo DCValorIdioma
dc.contributorFerreira, João Paulo de Castro Canaspt_PT
dc.contributorUniversidade do Porto. Faculdade de Engenhariapt_PT
dc.creatorBarroso, Alberto Rui Frutuosopt_PT
dc.date2008pt_PT
dc.date.accessioned2012-02-09T10:23:20Z-
dc.date.available2012-02-09T10:23:20Z-
dc.date.issued2008-
dc.identifieroai:digitool.fe.up.pt:51589pt_PT
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10216/57744-
dc.descriptionTese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores - Major de Telecomunicações. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008pt_PT
dc.formatXVI, 124 p., 30 cmpt_PT
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_PT
dc.format.mimetypeapplication/pdfpt_PT
dc.languageporpt_PT
dc.relationFEUPpt_PT
dc.relationSDIpt_PT
dc.relationRiFEUPpt_PT
dc.rightsopenAccesspt_PT
dc.subjectMemóriaspt_PT
dc.subjectTestes de circuitospt_PT
dc.subjectReparação de anomaliaspt_PT
dc.titleTécnicas de auto-teste (BIST) e auto-reparação (BISR) para memórias RAM síncronaspt_PT
dc.typeDissertaçãopt_PT
dc.contributor.uportoFaculdade de Engenharia-
dc.identifier.doi10.34626/01q2-xq85-
thesis.degree.grantorFaculdade de Engenharia-
thesis.degree.grantorUniversidade do Porto-
thesis.degree.level1-
dc.identifier.isnihttps://isni.org/isni/000000040392388X-
dc.identifier.rorhttps://ror.org/043pwc612-
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