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https://hdl.handle.net/10216/134950| Author(s): | Mafalda Vieira Giesta |
| Title: | Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores |
| Issue Date: | 2021-07-12 |
| Subject: | Outras ciências da engenharia e tecnologias Other engineering and technologies |
| Scientific areas: | Ciências da engenharia e tecnologias::Outras ciências da engenharia e tecnologias Engineering and technology::Other engineering and technologies |
| DOI: | 10.34626/0szg-5a63 |
| TID identifier: | 202822761 |
| URI: | https://hdl.handle.net/10216/134950 |
| Document Type: | Dissertação |
| Rights: | openAccess |
| Appears in Collections: | FEUP - Dissertação |
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|---|---|---|---|---|
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