Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores

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DC Field	Value	Language
dc.creator	Mafalda Vieira Giesta
dc.date.accessioned	2025-11-07T00:20:37Z	-
dc.date.available	2025-11-07T00:20:37Z	-
dc.date.issued	2021-07-12
dc.date.submitted	2021-07-29
dc.identifier.other	sigarra:484383
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/10216/134950	-
dc.language.iso	por
dc.rights	openAccess
dc.subject	Outras ciências da engenharia e tecnologias
dc.subject	Other engineering and technologies
dc.title	Desenvolvimento de modelos de reclassificação automática de defeitos numa indústria de semicondutores
dc.type	Dissertação
dc.contributor.uporto	Faculdade de Engenharia
dc.identifier.doi	10.34626/0szg-5a63
dc.identifier.tid	202822761
dc.subject.fos	Ciências da engenharia e tecnologias::Outras ciências da engenharia e tecnologias
dc.subject.fos	Engineering and technology::Other engineering and technologies
thesis.degree.discipline	Mestrado Integrado em Engenharia e Gestão Industrial
thesis.degree.grantor	Faculdade de Engenharia
thesis.degree.grantor	Universidade do Porto
thesis.degree.level	1
Appears in Collections:	FEUP - Dissertação

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