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https://hdl.handle.net/10216/106664| Author(s): | José Diogo Queiroz de Athayde Agorreta de Alpuim |
| Title: | Statistically Enhanced Analog Design |
| Issue Date: | 2017-07-10 |
| Description: | 1ª Parte: Comparação de diferentes métodos estatísticos para melhorar o tempo de simulação necessário para determinar a distribuição das medidas de desempenho de um circuito analógico-digital com base na variabilidade dos seus processos de fabrico. Esta comparação é feita relativamente ao método maioritariamente usado, o método de Monte-Carlo, que embora seja eficaz e robusto, tem um custo temporal elevado. Este custo é especialmente alto à medida que se aumenta a complexidade dos circuitos e consequentemente o número de simulações necessárias. 2ª Parte: Implementação de uma ferramenta de optimização do dimensionamento de um circuito analógico-digital cujo objectivo é auxiliar o projectista no cálculo dos valores óptimos que minimizam o efeito da variabilidade dos processos de fabrico nas variáveis de desempenho do circuito. Esta ferramenta baseia-se em algortimos iterativos pelo que a diminuição do tempo de simulação obtida na 1ª parte é crucial para o sucesso do projecto. A implementação foi feita em duas versões diferentes: Na primeira recorrendo a uma malha fechada de controlo e na segunda recorrendo ao algoritmo PSO (particle-swarm Optimization). |
| Subject: | Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering |
| Scientific areas: | Ciências da engenharia e tecnologias::Engenharia electrotécnica, electrónica e informática Engineering and technology::Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering |
| DOI: | 10.34626/9g8y-yy32 |
| TID identifier: | 201905167 |
| URI: | https://hdl.handle.net/10216/106664 |
| Document Type: | Dissertação |
| Rights: | openAccess |
| Appears in Collections: | FEUP - Dissertação |
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| 206465.pdf | Statistically Enhanced Analog Design | 2.11 MB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
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