Please use this identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/10216/106664
Author(s): José Diogo Queiroz de Athayde Agorreta de Alpuim
Title: Statistically Enhanced Analog Design
Issue Date: 2017-07-10
Description: 1ª Parte: Comparação de diferentes métodos estatísticos para melhorar o tempo de simulação necessário para determinar a distribuição das medidas de desempenho de um circuito analógico-digital com base na variabilidade dos seus processos de fabrico. Esta comparação é feita relativamente ao método maioritariamente usado, o método de Monte-Carlo, que embora seja eficaz e robusto, tem um custo temporal elevado. Este custo é especialmente alto à medida que se aumenta a complexidade dos circuitos e consequentemente o número de simulações necessárias. 2ª Parte: Implementação de uma ferramenta de optimização do dimensionamento de um circuito analógico-digital cujo objectivo é auxiliar o projectista no cálculo dos valores óptimos que minimizam o efeito da variabilidade dos processos de fabrico nas variáveis de desempenho do circuito. Esta ferramenta baseia-se em algortimos iterativos pelo que a diminuição do tempo de simulação obtida na 1ª parte é crucial para o sucesso do projecto. A implementação foi feita em duas versões diferentes: Na primeira recorrendo a uma malha fechada de controlo e na segunda recorrendo ao algoritmo PSO (particle-swarm Optimization).
Subject: Engenharia electrotécnica, electrónica e informática
Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering
Scientific areas: Ciências da engenharia e tecnologias::Engenharia electrotécnica, electrónica e informática
Engineering and technology::Electrical engineering, Electronic engineering, Information engineering
TID identifier: 201905167
URI: https://hdl.handle.net/10216/106664
Document Type: Dissertação
Rights: openAccess
Appears in Collections:FEUP - Dissertação

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