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https://hdl.handle.net/10216/66710| Author(s): | Moreira, André Ricardo Araújo |
| Title: | Reliability study of advanced 2T-FNFN-NOR embedded memory devices |
| Issue Date: | 2009 |
| Date: | 2009 |
| Description: | Estágio realizado na NXP Semiconductor, Nijmegen (Holanda) e orientado pelo Doutor Guoqiao Tao Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores (Major Telecomunicações). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2009 |
| Subject: | Memórias (informática) Memórias flash Fiabilidade |
| Other Identifiers: | oai:digitool.fe.up.pt:232387 |
| DOI: | 10.34626/epvn-hf45 |
| URI: | http://hdl.handle.net/10216/66710 |
| Related Information: | FEUP SDI RiFEUP |
| Document Type: | Dissertação |
| Rights: | restrictedAccess |
| Appears in Collections: | FEUP - Dissertação |
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